Ábhar Seirbhíse/Scóip agus Míreanna Tástála
a. TEM Thin-Samplaí Ranna
Feidhm thábhachtach de mhicreascópacht dé-léasa ian dírithe ar léas (DB-FIB) is ea samplaí ultratanaí a ullmhú do mhicreascópacht leictreoin tarchurtha (TEM). Is féidir le Méadreolaíocht GRGTEST na míreanna tástála seo a leanas a sholáthar don fheidhmchlár seo:
Ábhar Seirbhíse
|
Mír Tástála |
Aonad Athfhriotail |
Cineál Samplach |
|
Sampla XS Bunaithe ar Shileacan (Si) (Tras-rannóg) Ullmhúchán Samplach |
gach (ea) |
Sliseanna próisis chun cinn ag 14nm agus thíos; sliseanna ag 28nm, 40nm, 55nm agus os a chionn |
|
Sampla PV Bunaithe ar Shileacan (Si) (amharc ar an bPlean-) Ullmhúchán Samplach |
gach (ea) |
Sliseanna próisis chun cinn ag 14nm agus thíos; sliseanna ag 28nm, 40nm, 55nm agus os a chionn |
|
Ullmhúchán Samplach XS (Tras-) nach bhfuil bunaithe ar shilicón |
uair(h) |
Samplaí nach bhfuil bunaithe ar shileacan, lena n-áirítear Gallium Arsenide (GaAs), Gallium Nitride (GaN), Silicon Carbide (SiC), etc. |
|
Ullmhúchán Samplach PV (Plean-amharc) nach bhfuil bunaithe ar shilicón |
uair(h) |
Samplaí nach bhfuil bunaithe ar shileacan, lena n-áirítear Gallium Arsenide (GaAs), Gallium Nitride (GaN), Silicon Carbide (SiC), etc. |
|
Ullmhúchán Samplach Speisialta |
uair(h) |
Samplaí éagsúla ábhar nua, lena n-áirítear ábhair ceallraí litiam, ábhair leictreoid graphene, etc. |
b. Anailís ar Rannóga Hotspot FA
|
Mír Tástála |
Aonad Athfhriotail |
Cineál Samplach |
|
Anailís ar an Rannóg Hotspot FA -(lena n-áirítear hotspots arna ngabháil ag modhanna ar nós OBIRCH; tá tástáil aon stad lena n-áirítear gabháil hotspot ar fáil) |
uair(h) |
Samplaí leathsheoltóra: Wafer, IC, comhpháirteanna, MEMS, léasair, etc. |
c. Próiseáil Rannóige Trasghnách
|
Mír Tástála |
Aonad Athfhriotail |
Cineál Samplach |
|
Próiseáil Rannán Trasdhírithe |
uair(h) |
Samplaí leathsheoltóra: Wafer, IC, comhpháirteanna, PCB, MEMS, léasair, etc.;Samplaí eile neamh-leathsheoltóra |
|
Próiseáil tras-rannóige nach bhfuil dírithe |
uair(h) |
Samplaí leathsheoltóra: Wafer, IC, comhpháirteanna, PCB, MEMS, léasair, etc.;Samplaí eile neamh-leathsheoltóra |
Timthriall Tástála
Is é 3 lá féilire an timthriall tástála caighdeánach. Maidir le riachtanais speisialta, is féidir linn Sleachta a sholáthar le hamanna freagartha éagsúla de 48h, 24h, agus 12h.
Ár mBuntáistí
Tá taithí ábhartha ag baill foirne GRGTEST Measurement ar ardphróisis déantúsaíochta sliseog. Cloíimid le cur chuige atá dírithe ar an gcustaiméir agus táimid tiomanta do sheirbhísí tástála atá cruinn, tráthúil agus cuimsitheach a sholáthar.
Is é GRGTEST Measurement an chuideachta tástála tríú páirtí is mó faoi úinéireacht an stáit atá liostaithe sa tSín. Tá meicníocht bhainistíochta fhónta ag ár n-ardán agus cumais chuimsitheacha tástála agus anailíse próisis iomlána, rud a chuireann ar ár gcumas anailís thráthúil agus údarásach a sholáthar do chliaint maidir le tionscadail iomlána.
Riachtanais Shamplacha
Ainhidriúil; níor cheart go mbeadh comhpháirteanna leachtacha ar bith sna samplaí; cobhsaí faoi ionradaíocht léas ian (ní féidir roinnt samplaí orgánacha a bhrath); toisí go ginearálta nach mó ná 10cm * 10cm * 5cm (fad * leithead * airde).
Clibeanna Te: db-fib (léas ian dírithe dé-léas ian dírithe), China db-fib (dé-léas ian dírithe ar léas)
